IR-BZPは、検出部と本体部を分離構造にすることで検出部を小形化したもので、高温環境での使用が可能です。 デジタル温度表示、パラメータ設定機能を搭載し安定した測定を実現します。
0～1000℃の測定対象を-10～100℃の低温から高温環境下での使用が可能。検出部と本体部が分離しており省スペースでの設置が可能
| 機種 | 高温用 |
|---|---|
| 形式 | IR-BZP |
| 検出素子 | サーモパイル |
| 測定波長 | 8～14μm |
| 測定温度範囲 | 0～1000℃ |
| 精度定格 | 300℃未満：±3.0℃ 300℃以上：測定値の1.0％ |
| 再現性 | ±0.5℃または測定値の±0.5％ |
| 分解能 | 2℃ |
| 応答時間 | 15ms |
| 測定径/測定距離 | φ8/200mm |
| 出力信号 | 電流出力または熱電対出力 |
| 通信インターフェイス | RS-485 |
| 電源 | 8～36V DC |
| 消費電力 | 最大 1.5VA |
| 外形寸法 | W80xH70xD30mm（本体部） |
| 質量 | 約450g（本体部） |
| その他 | CEマーキング |
チノー放射温度計の製品セレクションガイドです。
半導体の前工程の「温度計測・制御」に関わる製品や、これらの製品を組み合わせたシステム提案までいたします。
「インゴット引き上げ」「ウエハの研磨・酸化」「エッチング」「成膜」の工程における温度計測・制御のほか、「超電導」「人工ダイヤモンド」「150℃まで耐えうるサーモグラフィー」に関するソリューションをご紹介します。
IR-BZPは検出部を分離し小形化と高速化を実現しました。耐熱性向上で装置組込に最適な小形放射温度計です。
IR-BZP
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